Block diagram of atomic-force micro

Block diagram of atomic-force microscope using beam deflection detection. As the cantilever is displaced via its interaction with the surface, so too will the reflection of the laser beam be displaced on the surface of the photodiode.

Results (Vietnamese) 1:

Sơ đồ khối của kính hiển vi lực nguyên tử bằng cách sử dụng chùm lệch phát hiện. Như cần cẩu trụ là dời qua tương tác của nó với các bề mặt, vì vậy quá sẽ phản ánh của các chùm tia laser được dời vào bề mặt của photodiode.

Results (Vietnamese) 2:

sơ đồ khối của nguyên tử hiển vi lực bằng phát hiện lệch chùm tia. Khi cantilever được dời qua tương tác của nó với bề mặt, vì vậy cũng sẽ phản ánh của các chùm tia laser được di dời trên bề mặt của các photodiode.