2.3.6. Scanning electron microscopy

2.3.6. Scanning electron microscopy (SEM)The morphological examination of films was performed byscanning electron microscopy (SEM) (VEGA II, TESCAN, CzechRepublic). Strips of dry films were immersed in liquid nitrogen andcryo-fractured manually. Then, the specimens were stuck onto acylindrical aluminum stub by a double-sided tape. The stubs withthe film were sputtered with a thin layer of gold in an ion sputtercoater (K-450X, EMITECH, England) and placed into a scanning elec-tron microscope to see the cross-section morphology of the films.Also the surface of the films was investigated.

Results (Thai) 1:

2.3.6 การสแกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM) ตรวจสอบสัณฐานของภาพยนตร์ถูกทำ byscanning อิเล็กตรอน microscopy (SEM) (เวก้า II, TESCAN, CzechRepublic) แผ่นฟิล์มแห้งถูกแช่อยู่ในไนโตรเจนเหลว andcryo fractured ด้วยตนเอง แล้ว ไว้เป็นตัวอย่างถูกติดไว้บนขั้วอลูมิเนียม acylindrical ด้วยเทปสองหน้า สตับฟิล์มถูก sputtered ด้วยชั้นบาง ๆ ของทองในการ sputtercoater ไอออน (K 450 X, EMITECH อังกฤษ) และอยู่ในแกน elec-ตำบลกล้องจุลทรรศน์เพื่อดูสัณฐานวิทยาระหว่างส่วนของภาพยนตร์นอกจากนี้ พื้นผิวของฟิล์มถูกตรวจสอบ

Results (Thai) 2:

2.3.6 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) การตรวจสอบลักษณะทางสัณฐานวิทยาของภาพยนตร์ที่ได้ดำเนินการ byscanning กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) (VEGA ครั้งที่สอง Tescan, CzechRepublic) แถบของภาพยนตร์แห้งแช่ในไนโตรเจนเหลว andcryo-ร้าวด้วยตนเอง จากนั้นตัวอย่างที่ติดอยู่บนต้นขั้วอลูมิเนียม acylindrical โดยเทปสองด้าน สมบูรณ์ withthe ฟิล์มถูกพ่นด้วยชั้นบาง ๆ ของทองใน sputtercoater ไอออน (K-450x, Emitech อังกฤษ) และวางลงในกล้องจุลทรรศน์ Elec-ตรอนเพื่อดูสัณฐานข้ามส่วนของ films.Also พื้นผิวของ ภาพยนตร์ที่ได้รับการตรวจสอบ

Results (Thai) 3:

2.3.6 . กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) การตรวจสอบลักษณะทางสัณฐานวิทยาของภาพยนตร์ที่แสดง byscanning อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ( tescan II , เวก้า , เช็ค รีพับบลิค ) แถบฟิล์มแห้งถูกแช่อยู่ในไนโตรเจนเหลว andcryo หักด้วยตนเอง จากนั้นทำการติดบนโครงอลูมิเนียม acylindrical ด้วยเทปสองด้าน .บัตรกับฟิล์มเป็น sputtered กับชั้นบางของทองในการ sputtercoater ไอออน ( k-450x emitech , อังกฤษ ) และวางไว้ในการสแกน Elec TRON กล้องจุลทรรศน์เพื่อดูลักษณะสัณฐานวิทยาของภาพยนตร์ นอกจากนี้ พื้นผิวของฟิล์มได้