2.3.7. Atomic force microscopy (AFM

2.3.7. Atomic force microscopy (AFM)The surface morphology of the films was examined using anatomic force microscope (DualScopeTM DS95-50, DME, Denmark)with a 200 × 200 m scan size and a 15 m vertical range.A rectangular cantilever with a spring constant of 20–60 N/mwas positioned over the sample, and 40 × 40 m images wereobtained in non-contact mode. Two statistical parameters, asso-ciated with sample roughness, were calculated: average roughness(Ra: average of the absolute value of the height deviations froma mean surface), root-mean-square roughness (Rq: root-mean-square average of height deviations taken from the mean dataplane). Three images were analyzed in each formulation.

Results (Thai) 1:

2.3.7. microscopy แรงอะตอม (AFM) สัณฐานวิทยาที่พื้นผิวของฟิล์มถูกตรวจสอบโดยใช้ anatomic บังคับกล้องจุลทรรศน์ (DualScopeTM DS95-50, DME เดนมาร์ก) กับ 200 × 200 เมตรแกนขนาดและความยาว 15 เมตรแนวตั้งCantilever สี่เหลี่ยมกับสปริงมีค่าคงที่ของ 20 – 60 N/mwas ตำแหน่งตัวอย่าง และ 40 × 40 เมตรภาพ wereobtained ในโหมด-ติดต่อ มีคำนวณพารามิเตอร์สถิติสอง asso-ciated มีตัวอย่างความหยาบ : เฉลี่ยความหยาบ (Ra: ค่าเฉลี่ยของค่าสัมบูรณ์ของผิวเฉลี่ย froma ส่วนเบี่ยงเบนสูง), ความหยาบรากค่าเฉลี่ยกำลังสอง (Rq: รากค่าเฉลี่ยกำลังสองเฉลี่ยของความเบี่ยงเบนของความสูงที่นำมาจาก dataplane หมายถึง) ภาพที่สามถูกวิเคราะห์ในการกำหนดแต่ละ

Results (Thai) 2:

2.3.7 กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) สัณฐานพื้นผิวของภาพยนตร์ที่ได้รับการตรวจสอบโดยใช้กล้องจุลทรรศน์แรงกายวิภาค (DualScopeTM DS95-50, DME, เดนมาร์ก) กับ 200 × 200? เมตรขนาดสแกนและ 15? m แนวตั้ง range.A เท้าแขนสี่เหลี่ยม ฤดูใบไม้ผลิอย่างต่อเนื่องของ 20-60: N / Mwas วางอยู่เหนือตัวอย่างและ 40 × 40? เมตร wereobtained ภาพในโหมดที่ไม่ใช่การติดต่อ สองพารามิเตอร์สถิติร-ciated กับความหยาบตัวอย่างจะถูกคำนวณ: ความหยาบเฉลี่ย (Ra: ค่าเฉลี่ยค่าสัมบูรณ์ของความสูงของการเบี่ยงเบน FROMA หมายถึงพื้นผิว), ความหยาบรากเฉลี่ยตาราง (Rq: รากเฉลี่ยตารางค่าเฉลี่ยของความสูง เบี่ยงเบนนำมาจากค่าเฉลี่ย dataplane) สามภาพถูกนำมาวิเคราะห์ในแต่ละสูตร

Results (Thai) 3:

ดาวน์โหลด . กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM ) ลักษณะพื้นผิวของฟิล์มตรวจโดยใช้กล้องจุลทรรศน์แรง ( dualscopetm ds95-50 DME , กายวิภาค , เดนมาร์ก ) กับ 200 × 200  M สแกนขนาด 15  มแนวตั้งช่วง เป็นสะพานสี่เหลี่ยมด้วยสปริงค่าคงที่ของ 20 - 60 N / mwas วางผ่านตัวอย่างและ 40 × 40  ใช้ในโหมด M ภาพโดยไม่ต้องสัมผัส 2 สถิติพารามิเตอร์รศ ciated กับความหยาบ , ตัวอย่างคำนวณ : ความหยาบเฉลี่ย ( รา : เฉลี่ยของค่าสัมบูรณ์ของค่าความสูงจากพื้นผิวหมายถึง ) , รากหมายความว่าสี่เหลี่ยมจัตุรัสความหยาบ ( RQ : รากค่าเฉลี่ยตารางค่าความสูงที่ถ่ายจากหมายถึงดาต้า เพลน ) สามภาพที่ได้มาในแต่ละการกำหนด