During the experiments, SEM and TEM

During the experiments, SEM and TEM images of SiO2 nanoparticles have been taken in different magnification. The main purpose of scanning the images in low magnification orders is to observe the nanoparticles adhesion in micron size in the samples. So, if nanoparticles changed to micro-size cluster by adhesion, in this case, it is impossible to observe the existing clusters in nano images in ×50.000 and more magnification. Therefore, first let us review SEM images scanning with micron-size images and ×5.000 and ×20.000 magnification (1 μm inde

Results (Thai) 1:

ในระหว่างการทดลอง SEM และ TEM ภาพของอนุภาคนาโน SiO2 ได้รับการดำเนินการในการขยายที่แตกต่างกัน วัตถุประสงค์หลักของการสแกนภาพในคำสั่งขยายต่ำคือการสังเกตการยึดเกาะอนุภาคนาโนขนาดไมครอนในกลุ่มตัวอย่าง ดังนั้นถ้าอนุภาคนาโนเปลี่ยนไปเป็นคลัสเตอร์ไมโครขนาดโดยการยึดเกาะในกรณีนี้มันเป็นไปไม่ได้ที่จะสังเกตเห็นกลุ่มที่มีอยู่ในภาพนาโนใน× 50.000 และอื่น ๆ ขยาย ดังนั้นก่อนอื่นให้เราตรวจสอบภาพ SEM การสแกนด้วยภาพไมครอนขนาดและ× 5.000 และ 20.000 ×ขยาย (1 ไมครอนดัชนีคำศัพท์

Results (Thai) 2:

ในระหว่างการทดลองภาพ SEM และ TEM ของอนุภาคนาโน SiO2 ได้รับการถ่ายในการขยายที่แตกต่างกัน วัตถุประสงค์หลักของการสแกนภาพในคำสั่งการขยายต่ำคือการสังเกตการยึดเกาะอนุภาคนาโนในขนาดไมครอนในตัวอย่าง ดังนั้น, ถ้าอนุภาคนาโนเปลี่ยนแปลงคลัสเตอร์ขนาดเล็กโดยการยึดเกาะ, ในกรณีนี้, มันเป็นไปไม่ได้ที่จะสังเกตคลัสเตอร์ที่มีอยู่ในภาพนาโนใน×๕๐.๐๐๐และขยายมากขึ้น. ดังนั้นก่อนอื่นให้เราตรวจสอบภาพ SEM สแกนด้วยภาพขนาดไมครอนและ×๕.๐๐๐และ๒๐.๐๐๐การขยาย (1 μ m

Results (Thai) 3:

SEM และ TEM พบว่าอนุภาคนาโนซิลิกาที่มีขนาดแตกต่างกัน วัตถุประสงค์หลักของการสแกนภาพเพื่อสังเกตการยึดเกาะของอนุภาคนาโนในตัวอย่าง ดังนั้นในกรณีนี้ถ้าอนุภาคนาโนจะถูกแปลงเป็นกลุ่มระดับไมครอนโดยการยึดเกาะมันเป็นไปไม่ได้ที่จะสังเกตกลุ่มที่มีอยู่ในนาโนภาพที่มีขนาดใหญ่กว่า 50000 ครั้ง ดังนั้นก่อนอื่นให้เราดูที่อัตราการเพิ่มขึ้นของการใช้ไมโครมิเตอร์ระดับภาพและ x 5.000 × 20.000