The X-ray diffraction (XRD) pattern

The X-ray diffraction (XRD) patterns were recorded on a Bruker D8 Advance X-ray diffractometer with Cu K radiation ( = 1.54178A˚ ) at a scan rate of 0.05◦ 2/s

Results (Thai) 1:

รูปแบบการเลี้ยวเบนการเอ็กซ์เรย์ (XRD) ถูกบันทึกไว้ใน diffractometer Bruker D8 ล่วงหน้าเอ็กซ์เรย์ด้วยรังสี Cu K (= 1.54178A˚) ที่อัตราการสแกน /s 0.05◦ 2

Results (Thai) 2:

X-ray diffraction (XRD) รูปแบบที่ได้รับการบันทึกไว้ใน diffractometer Bruker D8 แอดวานซ์เอ็กซ์เรย์กับ Cu K? รังสี (? = 1.54178A˚) ในอัตราที่สแกน0.05◦ 2 หรือไม่? / วินาที

Results (Thai) 3:

การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ ( XRD ) รูปแบบได้ถูกบันทึกไว้ใน d8 เอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์กับ BRUKER ล่วงหน้า Cu K  รังสี (  = 1.54178a ˚ ) ที่สแกนอัตรา 0.05 ◦ 2  / วินาที