X-ray diffraction (XRD) patterns we

X-ray diffraction (XRD) patterns were obtained with a BrukerD5005 X-ray Diffractometer with Cu Ka radiation. Diffractometer settings were 40 kV, 30 mA, a scan range of 3-65
2Ɵ, 0.02 2Ɵstep size, and 2.4 s counting time per step. Additional mineralogicalinformation was obtained by scanning electron microscope coupledwith energy dispersive spectroscopy (SEM-EDS; FEI-Quanta 200equipped with a microanalyzer EDAX Genesis, 2000). The densityof the metal-sludge was measured by a pycnometer. The moisturecontent was measured by drying the sample until reaching a stableweight.

Results (Indonesian) 1:

Difraksi sinar-X (XRD) pola diperoleh dengan BrukerD5005 X-ray Difraktometer dengan radiasi Cu Ka. Pengaturan difraktometer adalah 40 kV, 30 mA, berbagai scan 3-65? 2Ɵ, 0,02 2Ɵ
ukuran langkah, dan 2,4 s waktu penghitungan per langkah. Mineralogi tambahan
informasi yang diperoleh dengan memindai mikroskop elektron ditambah
dengan spektroskopi dispersi energi (SEM-EDS; FEI-Quanta 200
dilengkapi dengan microanalyzer EDAX Kejadian, 2000). Kepadatan
dari logam-lumpur diukur dengan piknometer a. Kelembaban
konten diukur dengan mengeringkan sampel sampai mencapai stabil
berat.

Results (Indonesian) 2:

Pola Difraksi sinar X (XRD) diperoleh dengan BrukerD5005 X-Ray Diffractometer dengan radiasi Cu ka. Pengaturan Diffractometer adalah 40 kV, 30 mA, rentang pemindaian 3-65 2 Ɵ, 0,02 2Ɵ
ukuran langkah, dan 2,4 s menghitung waktu per langkah. Mineralogi tambahan
informasi diperoleh dengan memindai mikroskop elektron digabungkan
dengan Energy dispersif spektroskopi (SEM-eds; 200 FEI-Quanta
dilengkapi dengan microanalyzer EDAX Genesis, 2000). Kepadatan
logam-Sludge diukur oleh Piknometer. Kelembaban
konten diukur dengan mengeringkan sampel hingga mencapai
Berat badan.