The scanning electron microscope in

The scanning electron microscope investigations where accomplished on a Zeiss Ultra Plus (5 kV) and an FEI Quanta FEG 250 (5 kV)

Results (Thai) 1:

สืบสวนการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนบรรลุผลในการ Zeiss Ultra Plus (5 kV) และหุย Quanta FEG 250 (5 kV)

Results (Thai) 2:

การตรวจสอบกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดที่ประสบความสำเร็จในการอัลตร้าพลัส Zeiss (5 กิโลโวลต์) และเฟควอนตั้ม FEG 250 (5 กิโลโวลต์)

Results (Thai) 3:

การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการตรวจสอบที่ประสบความสำเร็จบน Zeiss อัลตร้าพลัส ( 5 กิโล ) และเฟต้า FEG 250 ( 5 กิโล )