Room temperature tensile test for t

Room temperature tensile test for the specimens was performed under a Instron-5581 universal tensile testing machine. The specimens were machined having 5 mm in diameter and 25 mm in gage. After tensile test, the failed specimens were protected and cleaned. SEM observation was made on the specimens both along cross-sections and longitudinal sections in order to study the fracture behavior. Precipitates and dislocation pattern of the samples were analyzed using transmission electron microscopy (TEM; Tecnai G2 F30). TEM thin foils were prepared by the combination use of mechanical technology and ion beam thinning at 5 kV.

Results (Thai) 1:

การทดสอบแรงดึงอุณหภูมิห้องตัวอย่างได้ดำเนินการภายใต้ บริษัท อินสตรอนเครื่องทดสอบแรงดึง-5581 สากล ตัวอย่างที่ถูกกลึงมี 5 มิลลิเมตรและมีขนาดเส้นผ่าศูนย์กลาง 25 มิลลิเมตรในวัด หลังจากการทดสอบแรงดึงตัวอย่างล้มเหลวได้รับการคุ้มครองและทำความสะอาด SEM สังเกตได้ทำตัวอย่างพร้อมทั้งส่วนข้ามและส่วนยาวเพื่อศึกษาพฤติกรรมการแตกหัก ตกตะกอนและรูปแบบการเคลื่อนที่ของกลุ่มตัวอย่างที่ได้มาวิเคราะห์โดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเกียร์ (TEM; Tecnai G2 F30) TEM ฟอยล์บาง ๆ ที่ถูกจัดทำขึ้นโดยใช้การรวมกันของเทคโนโลยีเครื่องจักรกลและไอออนคานผอมบางที่ 5 กิโลโวลต์

Results (Thai) 2:

การทดสอบแรงดึงอุณหภูมิห้องพักสำหรับตัวอย่างที่ดำเนินการภายใต้การ๕๕๘๑เครื่องทดสอบแรงดึงสากล ชิ้นงานทดสอบที่มีเส้นผ่านศูนย์กลาง5มม. และตัวเกจ25มม. หลังจากการทดสอบแรงดึงตัวอย่างที่ล้มเหลวได้รับการป้องกันและทำความสะอาด การสังเกตดู SEM ทำขึ้นในตัวอย่างทั้งในส่วนข้ามและส่วนตามยาวเพื่อศึกษาพฤติกรรมการแตกหัก การตกตะกอนและรูปแบบการเคลื่อนที่ของตัวอย่างที่ได้รับการวิเคราะห์โดยใช้การส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM; Tecnai G2 F30) ฟอยล์บางๆ TEM ได้รับการจัดทำโดยการใช้งานร่วมกันของเทคโนโลยีเครื่องจักรกลและลำแสงไอออนทำให้ผอมบางที่ 5 kV

Results (Thai) 3:

ตัวอย่างทดสอบแรงดึงที่อุณหภูมิห้องได้ดำเนินการในเครื่องทดสอบแรงดึงสากล ตัวอย่างที่ถูกประมวลผลโดยเครื่องจักรที่มีเส้นผ่าศูนย์กลาง 5mm และ 25mm สเปค หลังจากการทดสอบแรงดึงตัวอย่างที่ล้มเหลวจะได้รับการคุ้มครองและทำความสะอาด เพื่อศึกษาพฤติกรรมการแตกหักของตัวอย่างการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่วนตัดขวางและส่วนตามยาวของตัวอย่าง การตกตะกอนและเคลื่อนรูปร่างของตัวอย่างที่ถูกวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบเต็ม ฟิล์มบางเต็มเตรียมโดยการรวมกันของเทคนิคทางกลและ 5kv ลำแสงไอออนเจือจาง