The morphologies of electrode surfa

The morphologies of electrode surface were investigated with
a scanning electron microscope (SEM), (Technex Co., Tiny-SEM
1710). X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) measurements
were carried out using a JPS-9010TR spectrometer (JEOL) with
a monochromatic MgK source. X-ray diffraction (XRD) patterns
were recorded with a diffract meter (MAC Science, M03HF22) using
Cu K radiation.

Results (Thai) 1:

Morphologies ของพื้นผิวอิเล็กโทรดถูกสอบสวนด้วยเป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกน (SEM), (Technex Co., Tiny SEM1710) การเอ็กซ์เรย์ photoelectron ก (XPS) วัดได้ดำเนินการใช้เป็น JPS 9010TR สเปกโตรมิเตอร์ (JEOL) กับMgK ที่ยังต้นทาง รูปแบบการเลี้ยวเบนการเอ็กซ์เรย์ (XRD)ถูกบันทึกไว้ ด้วยโดยใช้ diffract เมตร (วิทยาศาสตร์ MAC, M03HF22)Cu K รังสี

Results (Thai) 3:

ลักษณะของพื้นผิวขั้วไฟฟ้าได้ด้วย : กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) , ( technex Co . , เล็ก SEM
1710 ) เครื่อง X-ray photoelectron spectroscopy ( XPS ) การวัด
ทดลองใช้ jps-9010tr Spectrometer ( Jeol )
เป็น monochromatic MGK  แหล่ง เครื่อง X-ray diffraction ( XRD ) รูปแบบ
ได้ถูกบันทึกไว้ด้วย diffract เมตร ( แม็ค วิทยาศาสตร์ m03hf22 ) โดยใช้
Cu K  รังสี