2.3. Microstructure analysisOptical

2.3. Microstructure analysis
Optical (OM) and scanning electron microscopes (SEM)
were used to analyze the microstructure of the specimens.
Secondary electron imaging allowed morphologic description
of the worn surfaces, while backscattered electron imaging and EDS compositional maps were used to qualitatively
describe chemical variations in the microstructure. Cross sections
of the weld were polished and etched with Kalling’s
(hardfacings 2 and 3) and Nital 2% (hardfacing 1). Different types of carbides present in the microstructures were first
identified on the basis of their morphologies and confirmed
by micro-hardness measurements.

Results (Thai) 1:

2.3 การต่อโครงสร้างจุลภาควิเคราะห์แสง (ออม) และการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM)ใช้ในการวิเคราะห์ต่อโครงสร้างจุลภาคของตัวไว้เป็นตัวอย่างภาพสองอิเล็กตรอนได้อธิบาย morphologicพื้นผิวสวมใส่ ในขณะที่อิเล็กตรอน backscattered ภาพและ EDS compositional แผนที่ใช้ในการ qualitativelyอธิบายการเปลี่ยนแปลงทางเคมีในการต่อโครงสร้างจุลภาค ข้ามส่วนของการเชื่อมขัดเงา และสลักกับของ Kalling(hardfacings 2 และ 3) และ Nital (hardfacing 1) Carbides อยู่ใน microstructures แตกแรกระบุตาม morphologies ของพวกเขา และยืนยันโดยการวัดความแข็งไมโคร

Results (Thai) 2:

2.3 การวิเคราะห์โครงสร้างจุลภาค
Optical (OM) และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)
ถูกนำมาใช้ในการวิเคราะห์โครงสร้างจุลภาคของตัวอย่าง.
ถ่ายภาพอิเล็กตรอนรองได้รับอนุญาตให้คำอธิบายรูปร่าง
ของพื้นผิวที่สึกหรอในขณะที่การถ่ายภาพอิเล็กตรอนสะท้อนกลับและ EDS แผนที่ compositional ถูกนำมาใช้ในเชิงคุณภาพ
อธิบายการเปลี่ยนแปลงทางเคมีใน จุลภาค ส่วนครอส
ของรอยเชื่อมที่ถูกขัดและแกะสลักด้วย Kalling ของ
(hardfacings 2 และ 3) และ Nital 2% (hardfacing 1) ประเภทที่แตกต่างกันของคาร์ไบด์อยู่ในจุลภาคเป็นครั้งแรก
ที่ระบุบนพื้นฐานของรูปร่างลักษณะของพวกเขาและได้รับการยืนยัน
โดยการวัดความแข็งไมโคร